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SBI瑕疵检测系统WIS瑕疵检测系统广泛应用于检测塑料、纸张、薄膜、箔、无纺布材料和许多其它基材中的低对比度瑕疵并进行分类。采用最先进的技术，适应性强，可根据客户的个人应用和安装进行定制。
- 检查的幅面宽度范围从10mm到10m。（最多16线扫描摄像机，8K像素） - 速度高达1000m/min - 所有幅面自动增益、平场校正、自动边缘跟踪和不透明度控制。 - 分类基于对比度、模型识别、宽度、长度、表面和密度测量。 - 在透射、反射或任何角度的任何组合中操作。 - 瑕疵数据和图像是可视化的，并存储在数据库中以供审查。 - 简单、友好的操作员界面，具有密码保护的访问级别和在线项目敏感帮助。 - 通过网络连接进行远程控制。 - 兼容Excel的数据报告数据库连接SQL-Access-oracle - OPC连接（UA） 中国区代理商：华威（杭州）工业科技有限公司 地址：浙江省杭州市临平区南苑街道迎宾路501号余之城1幢商务楼904/905室 上一篇SBI测厚仪下一篇SBI平模头自动调节热螺栓系统 |
